半導体の障害率を実証　NTTと北海道大学

NTTと北海道大学は、宇宙空間の陽子と地上の中性子が高エネルギー帯で半導体のソフトエラーを引き起こす確率が同等であることを世界で初めて実証しました。これにより中性子照射試験1回で両方の評価が可能になり、試験のコストや期間が短縮される可能性があります。

NTTと北海道大学は、宇宙から飛来する放射線のうち宇宙空間で主要な陽子と地上で主要な中性子について、半導体に誤動作（ソフトエラー）を引き起こす確率が高エネルギー帯で同等であることを世界で初めて実証しました。これは従来、陽子照射試験と中性子照射試験を別々に行う必要があった評価手順に変化をもたらす成果とされています。発表は2026年2月27日に行われ、民間事業者が宇宙用途の評価を行いやすくなる点が注目されています。今回の実証は、産業利用に対応した試験機会の確保が課題となっている現状にも関係しています。 報じられている点： ・高エネルギー帯において、宇宙の陽子と地上の中性子が半導体に与えるソフトエラー確率が同等であると実証したこと。 ・この結果により、1回の中性子照射試験で地上・宇宙双方の評価が可能になるとされること。 ・NTTは既に商用化している地上向け中性子ソフトエラー試験に今回の知見を反映し、宇宙環境評価への適用範囲を拡大する方針であること。 ・技術の有効性を確認するため、国際宇宙ステーション（ISS）の船外実験プラットフォームでの実証実験を行い精度向上を目指す計画が示されていること。 ・宇宙環境は地上より数千～数万倍の放射線にさらされており、試験機会の確保が課題となっている点。 まとめ： 今回の実証は、地上での中性子照射試験を用いて宇宙環境での一部評価が可能になる点を示しており、照射試験のコストや期間の削減、試験機会の確保を容易にする可能性があります。NTTは商用試験への反映とISSでの実証実験を計画しており、今後は実証データの精度向上と適用範囲の確認が進む見込みです。